Тендер: Разработка алгоритма отбраковочных испытаний на пластинах и в корпусах, определяющих стойкость микросхем к воздействию спецфакторов
Завершён
05.04.2013 13:14
Участие
Способ размещения
Закупки у единственного поставщика
, Закупка у единственного поставщика (подрядчика, исполнителя) (до 01.07.18)
Ссылки на источники
- 223-ФЗ ЕИС 31300239222
Документация
Контактная информация
Телефон
+7 (473) 2263974
Электронная почта
konkurs@niiet.ru
Заказчик
Наименование
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники"
ИНН
3661057900
КПП
366101001
Участники и контракты
Аналитика доступна только зарегистрированным пользователям. Пройдите бесплатную регистрацию, чтобы использовать все возможности сервиса
Похожие тендеры
Наименование | Место поставки |
|
---|
:
:
Тендер на разработку алгоритма отбраковочных испытаний на пластинах и в корпусах, определяющих стойкость микросхем к воздействию спецфакторов
Тендер на разработку алгоритма отбраковочных испытаний на пластинах и в корпусах, определяющих стойкость микросхем к воздействию спецфакторов at
г. Воронеж, Воронежская область, Russia, RU
Воронежская область
Планирование и проведение научных исследований и разработок
Предмет тендера: Разработка алгоритма отбраковочных испытаний на пластинах и в корпусах, определяющих стойкость микросхем к воздействию спецфакторов.
Цена: не указана.